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工業內窺鏡搭載3D相位掃描測量法可有效降低測量選點誤差

2019-02-26 11:14:06

韋林工業內窺鏡搭載了業內先進的測量方法,具體包括:單物鏡的三維立體相位掃描測量3DPM、和三維立體雙物鏡測量技術3DPM。工業內窺鏡搭載3D相位掃描測量法可生成真正意義上的三維還原圖,可有效降低測量選點誤差,比傳統雙物鏡測量法優越。

使用工業內窺鏡進行檢測並對缺陷進行測量時,檢測人員往往需要在圖像上選點,然後再進行長度測量、距離測量等操作。傳統雙物鏡測量,因爲被檢對象結構的複雜性以及視覺誤差等諸多因素,容易出現人爲選點誤差,從而造成測量結果有較大的偏差。而3D相位掃描測量法的測量探頭與常規探頭不同,探頭與鏡頭內置光柵電學連接,3D相位測量技術通過光柵掃描被測物表面,獲取3D相位測量圖像,確定每個點的唯一坐標,並在後台可建立3D點雲圖形及深度圖,可通過點雲圖判斷打點的位置,從而大大降低了人爲選點失誤的概率。

如下图所示,为传统双物镜测量叶片边缘掉块的示意图。为了保证测量精度,通常在尽可能靠近叶片边缘处选点。图中选点看似准确,应该是选在该级叶片上,但实际情况是选在了發動機机匣上,构成了空间的点到线测量,造成了测量误差。这种情况在采用传统双物镜测量法时难免发生,肉眼难以分辨,测量结果自然不准确。

传统双物镜测量引入选点误差

采用3D技術可以解決這一問題。針對上述情況,如果采用3D相位測量技術,可以構建3D點雲圖形,並協助判斷打點位置,如下圖所示,可以看出之前所選的靠下位置的點已經脫離該級葉片的表面,實現上是位于下一級葉片上。糾正後的正確選點位置如圖中綠色線條所示,通過及時發現選點誤差並加以修正,從而得到正確的測量結果。

3D相位扫描测量法可有效降低测量选点误差

韋林工業內窺鏡Mentor Visual iQ,不仅支持单物镜的三维立体相位扫描测量,也支持三维立体双物镜测量技术,这在业内其他同类产品中都是做不到的。韋林工業內窺鏡搭载3D相位扫描测量法,可通过点云图,精准选点,避免引入人为误差,测量结果更准确!



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